Fischer台式荧光测厚仪/光谱仪

Fischer台式荧光测厚仪/光谱仪

 FISCHERSCOPE® X-RAY XAN系列配置多样，可以满足非常广泛的应用。它在快速分析和用户友好操作方面具备特殊的优势，如用于贵金属和金合金的分析。也可以用于电子和线路板行业超薄镀层分析。

应用实例
配备不同类型探测器的仪器都可以用来分析金合金。例如，配备了便宜的比例接收器探测器的XAN110，是分析包含几个元素的简单金合金的理想设备，例如分析含Au、Ag和Cu的黄色金合金。但是，如果合金中很多元素要测量或存在光谱重叠情况，那么配备半导体探测器的仪器，如XAN120，应该更加适合。由于具备非常好的分辨率，它也可以用来区分例如在牙合金中非常关键的金和铂以及融合的贵金属合金。
对于实验室和测试机构而言，XAN150配备了硅漂移接收器（SDD），六种滤片和四种不同的准直器，可以满足多种多样的应用。这款仪器Au的重复精度可达0.5‰以下，准确性可以灰吹法相媲美。

典型应用领域

珠宝和手表行业金和贵金属分析

测量几个纳米的超薄镀层，如印刷线路板和电

子元件上的Au和Pd。

痕量分析（如电子元件(RoHS)或工具中的有害

物质）

用XAN 150分析诸如Al，Si，P等轻元素

实验室，测试机构和大学里一般性的材料分析

和镀层厚度测量