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SR-SCOPE® RMP30-S

该便携式设备采用 4 点电阻法，十分适合测量多层电路板上薄镀层的厚度。这种电路板上的多层铜镀层通常被环氧树脂等绝缘体隔开。SR-SCOPE 的优势是利用电阻法测量不会受到其他层的影响，因此能够准确测定上层面铜层的厚度。

代理Fischer sr-scope rmp30-s铜箔测厚仪特性：

• 易于使用的手持式设备，用于准确测量电路板上的镀层厚度
• 功能原理基于 4 点电阻法，符合 DIN EN 14571 标准
• 放入探头后即可自动开始测量
• 对小型和大型测量区域提供各种探头

代理Fischer sr-scope rmp30-s铜箔测厚仪应用：

• 电路板上的铜镀层
• ERCU N 探头：0.1–10 µm 以及 5–120 µm
• ERCU-D10 探头：0.1–10 µm 以及 5–200 µm

产品参数： 

型 号: SR-SCOPE RMP30-S（测试主机） 
功 能: 采用微电阻法原理来测量铜层的厚度 
适 用: 测量多层线路板及单、双面软板上铜箔层的厚度 
主机特点: 特大LCD显示屏 
测量探头: PROBE ERCU N （测面铜之探头） 
测量范围： 0.1-120 um （0.04-4.8 mils） 
测量精度: 范围1：0.1-10 um 0.1-5 um = 0.075 um
5-10 um = 1.5 %
范围2：5-120 um 5-50 um = 0.5 um
50-80 um = 1 %
﹥80 um = 2 % 
主机尺寸: 160mm × 80mm × 30mm （高×宽×厚） 
主机重量: 230克 
售后服务： 一年保修