QNix 8500涂镀层厚度测厚仪

QNix 8500涂镀层厚度测厚仪

镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。

镀层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

X射线和β射线法是无接触无损测量，测量范围较小，X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用X射线镀层测厚仪 向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用广泛的测厚仪器。

QNix8500 涂镀层测厚仪一体分体通用，带菜单操作，是一种智能化的测厚 仪。可通过更换探头来满足不同的测量要求，可存储数据，并且可与计算机进行 无线数据传输。该仪器主机通用，探头按基体性质及测量范围分为多种，用户在 购买该产品是要根据需求选购合适的探头。QNix8500 可通过菜单设置单次测量 和连续测量、单点校准或两点校准、可同时测量钢铁上的金属镀层及镀层上涂层 的厚度，功能强大。德国 AUTOMATION 公司近年来又研发了无线探头、薄镀层探 头。用户只需购买一台主机即可满足不同的需求，只需简单的更换探头。