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FISCHERSCOPEB XAN310材料分析及镀层测厚仪
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更新时间:2023-04-25  |  阅读:1344

详情介绍

FISCHERSCOPEB XAN310材料分析及镀层测厚仪


简介:
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 310是一款X射线荧光材料分析及镀层测厚仪,特别适用于基本镀层厚度及合金成分的无损分析。XAN310可以快速分析成分并用克拉显示测量值,重量%或%o,其他合金成分也会同时得出。

        FISCHERSCOPE@-X-RAY系统有着出色的准确性和良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器,节省时间和精力。由于采用了基本参数法,无论是镀层系统还是固体和液体样品,都能在没有标准片的情况下进行分析和测量。

产品特点

  • 菲希尔XAN220型X射线金属材料分析仪为无损分析珠宝、钱币和贵金属特别优化设计;
  • 配备固定的准直器和基本虑片,特别适用于贵金属分析
  • 配备高分辨率硅漂移探测器 (SDD),适用于更复杂的多元素分析
  • 由下至上的测量方向,可以zui简便地实现样品定位

设计理念
XAN 310是一款用户界面友好的台式测量仪器。紧凑型的设计使仪器轻量化并且只需要很小的空间。测量室的门并不是向上打开,而是向前。因此可以使用笔记本放置在仪器_上方进行操作,来节省更多的空间。样品定位简单便捷。X射线源和接收器都集成在仪器底部舱室中,因而样品的底部是实际被测量面,而样品本身则由一层透明的薄膜窗口托放在测量室中。
内置可变焦视频系统和定位十字线,可以方便、准确地定位测量位置。通过功能强大、界面友好的WinFTM@软件,可以在计算机上便捷地完成整个测量过程,以及测量结果的数据分析和所有相关信息的显示等。FISCHERSCOPE X-RAY XAN*DIN ISO 3497标准和ASTM B 568标准。

典型的应用领域有:

  • 汽车零部件
  • 五金件,紧固件等防腐保护镀层
  • 电镀液溶液的成分分析
  • 金/银合金,如18K,24K金

技术参数:

预期用途能量色散X射线测量仪(ED XRF)用于分析贵金属及其合金的成分和涂层厚度。
元素范围硫S(16)至铀U(92)–同时多达24种元素
重复性对于金≤0.5‰,测量时间60秒
设计台式单元,带有向上打开的罩
测量方向自下而上
X射线管带铍窗的微焦点钨管
高电压3 steps:30 kV,40 kV,50 kV;大阳极电流:1 mA
光圈(准直仪)Ø 1 mm (39 mils), 可选Ø 2 mm (79 mils) or Ø 0.6 mm (23.6 mils)
测量点Ø 1.2 mm (47 mils) with aperture Ø 1 mm (39 mils)平放样品(测量距离0毫米)

 

我公司还经营世界的进口全新设备如:英国泰勒霍普森 (Taylor Hobson)、捷克吉尔斯派克 (gearSpect Group)、德国菲希尔 (Helmut Fischer)、德国EPK、荷兰InnovaTest、瑞士TRIMOS、美国奥林巴斯( Olympus)、美国雷泰( Raytek)等世界著名厂家生产的粗糙度仪、圆柱齿轮测量仪、涂镀层测厚仪、各种硬度计、测高仪、超声波探伤仪、DO-2 K PC锥齿轮单面啮合测量仪等。欢迎在线留言或电询!!

 

相关型号:

 

X射线测厚仪 XAN 220

X射线荧光分析仪 XAN 110

荧光镀层测厚仪XAN 250

 

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