测厚仪通过对薄膜材料的波浪边、塌边幅度进行测量，以帮助用户了解薄膜来料张力是否一致，满足涂布或使用要求。测厚仪采用激光测量位移差的方式，测量薄膜在一定张力下的表面平整度，并根据设定规则自动识别坏品，张力测量模块由一个激光位移传感器、驱动机构组成。

   测厚仪通过可调张力张紧薄膜被测物 后，驱动机构带动位移传感器横向来回扫描，得到膜片横向的高度差，根据转换关系转换成张力均匀性差异。测厚仪采用的高性能、低功耗微处理器技术，基于超声波测量原理，可以测量金属及其它多种材料的厚度，并可以对材料的声速进行测量，可以对生产设备中各种管道和压力容器进行厚度测量，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度，也可以对各种板材和各种加工零件作测量。

   测厚仪可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域，对厚度的测量，是由探头产生超声波脉冲透过耦合剂到达被测体，一部分超声信号被物体底面反射，探头接收由被测体底面反射的回波，地计算超声波的往返时间，并按下式计算厚度值，再将计算结果显示出来。测厚仪适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度；可配备多种不同频率、不同晶片尺寸的双晶探头使用。

   测厚仪具有探头零点校准、两点校准功能，可对系统误差进行自动修正；已知厚度可以反测声速，以提高测量精度；具有耦合状态提示功能； 标准速率每秒钟4次，快速率：每秒20次，自动识别主机说明书上探头类型列表中的探头；测厚仪调整内部参数，并修正V声程错误；补偿探头温度和零位偏移；显示保持/空白模式，显示测量读数后，屏幕上保持读数或显示空白。